原子力显微镜 FM-Nanoview 6800AFM 厂家

核心技术与成像模式

AFM成像基于三个主要模式，每个模式针对不同样品特性优化：

‌接触模式‌：针尖直接接触样品表面，通过悬臂偏转测量作用力，提供高分辨率图像但可能损伤软质样品‌。

‌非接触模式‌：针尖与表面保持微小距离，检测吸引力（如范德华力），适合易损样品但分辨率较低‌。

‌轻敲模式‌：针尖以共振频率振动，“轻敲”样品表面，结合高分辨率和低损伤风险，适用于软硬材料‌。

在这些模式下，AFM通过反馈系统控制针尖位置，确保成像稳定性。

应用与测量能力

AFM测试内容广泛，可同时获取样品多重性能指标：

‌表面形貌与粗糙度‌：以纳米***分辨率展示三维表面特征，分析粗糙度影响材料性能‌。

‌力学性质‌：使用力曲线测量弹性模量、硬度、粘附力和摩擦力，评估材料局部刚性‌。

‌电学性质‌：通过开尔文探针或导电模式，测定电势分布、电流分布和压电响应，用于半导体或电池研究。

AFM操作包括精确调节激光、更换探针和扫描参数设置，优化样品位置是关键步骤‌

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售后服务

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